型号/规格

JEM-F200

购置时间

2017.10

简介

该设备配置有HAADF附件，并采用全新概念的四级聚光镜设计，分别控制亮度和汇聚角，能最大程度发挥出STEM功能；因此，该设备可广泛应用于金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等物质的纳米尺度微分析，不能测磁性材料，可实现的功能主要有：1. 微观结构研究：材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析，包括明场像、暗场像、STEM像、高角环形暗场像、选区电子衍射、背散射电子/二次电子像和高分辨分析；2. 材料微观结构成分研究：成分的定性和半定量分析，元素的点、线和面分析等。

指标参数

1、分辨率：

TEM点分辨率：0.23nm,TEM晶格分辨率：0.10nm

STEM-DF:0.19nm,

STEM-BF:0.20nm，

STEM-BEI:1.0nm。

2、加速电压：200Kv,80Kv

主要应用

该设备可广泛应用于金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等物质的纳米尺度微分析，不能测含铁钴镍等 磁性材料。

样品要求

样品尺度在纳米级别，不能测磁性材料。

不接受磁性样品原因

透射电镜中由于样品直接置于透射电镜的物镜中间, 并极靠近极靴, 磁性样品很容易磁化电镜的“心脏”部件—物镜极靴, 导致像散增大和图像畸变, 造成电镜分辨率下降, 使一台高性能电镜变成有缺陷的低档电镜。同时，粉末磁性样品极易吸附到极靴表面和光学通道上, 影响电镜观察质量。明显有磁性的样品(包括已退磁的磁性和微磁性样品)不能做透射电镜观察。铁钴镍就是是典型的磁性材料。

放置地点

四方校区第一实验楼101室

负责人及联系方式

牟晓明：13326312283